普元信息申請基于EOS低代碼開發(fā)平臺(tái)實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測試與錯(cuò)誤修復(fù)的專利，提高開發(fā)效率和應(yīng)用程序質(zhì)量

金融界2024年2月27日消息，據(jù)國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局公告，普元信息技術(shù)股份有限公司申請一項(xiàng)名為“基于EOS低代碼開發(fā)平臺(tái)實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測試與錯(cuò)誤修復(fù)的方法、系統(tǒng)、裝置、處理器及介質(zhì)“，公開號(hào)CN117609017A，申請日期為2023年11月。

專利摘要顯示，本發(fā)明涉及一種信創(chuàng)環(huán)境下基于普元EOS低代碼開發(fā)平臺(tái)實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測試與錯(cuò)誤修復(fù)處理的方法，包括以下步驟：選擇組件；生成測試用例，若用戶不確認(rèn)該用例，則重新生成用例；執(zhí)行用例；將執(zhí)行用例后的結(jié)果進(jìn)行展示；判斷是否有錯(cuò)誤結(jié)果，如果是，則對錯(cuò)誤結(jié)果進(jìn)行自動(dòng)修復(fù)或手動(dòng)修復(fù)；進(jìn)行版本控制。本發(fā)明還涉及一種信創(chuàng)環(huán)境下用于實(shí)現(xiàn)基于普元EOS低代碼開發(fā)平臺(tái)的自動(dòng)化測試與錯(cuò)誤修復(fù)處理的裝置、處理器及存儲(chǔ)介質(zhì)。采用了本發(fā)明的基于EOS低代碼開發(fā)平臺(tái)實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測試與錯(cuò)誤修復(fù)的方法、系統(tǒng)、裝置、處理器及其計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，用戶可以更輕松地進(jìn)行應(yīng)用程序測試，減少了手動(dòng)測試工作的工作量，提高了應(yīng)用程序質(zhì)量，并能夠更快速地診斷和解決問題，以提高開發(fā)效率和應(yīng)用程序質(zhì)量。

本文源自金融界